一分鐘，快速了解“多通道RCS測試系統”

2025年6月24日產品中心 2270

還在為傳統緊縮場測試效率低、頻段覆蓋有限而煩惱？最新研發的多通道RCS測試系統來了！0.3GHz～40GHz全頻段覆蓋，支持雙極化、單/多通道測試，一鍵實現RCS測量、成像、材料反射率分析，效率提升5-10倍！

?? 核心優勢：
18G以下全頻段一次測量：0.3GHz～18GHz寬頻覆蓋，支持掃頻、點頻測試；

全自動化測試：轉臺控制、數據采集全自動化，操作更便捷；

超高精度：背景對消后頻域電平低至-70dBsm，最小可測RCS達-50dBsm（±1dB測量不確定度）；

高度集成：饋源及儀表系統全集成連接，頻段/極化切換實現100%程控，無需手動調整/拆裝。

1、系統特點

多通道RCS測試系統，主要用于緊縮場RCS測試暗室中，配合多臺矢量網絡分析儀（或專用測量雷達）及專用測控軟件、雙極化寬帶饋源及其陣列布局等，可實現0.3GHz～18GHz全頻段目標散射特性的一次測量，比常規緊縮場儀表系統測試效率提高5～10倍。

2、技術指標

6m靜區以下緊縮場，矢量背景對消后，頻域背景電平：

最小可測RCS（精度±1dB）：

3、軟件功能

設備控制

儀表系統控制	遠程、本地設置測試系統工作參數，啟動系統完成測試，采集并存儲測試數據。
饋源支架控制	通過網絡接口或串口對饋源支架上的饋源安裝平臺進行遠程控制，使饋源按照測試需求進行配合運動；控制饋源支架進行旋轉或平移運動。
轉臺（低散射金屬支架轉頂）控制	通過網絡接口或串口對轉臺（低散射金屬支架轉頂）進行遠程控制，可以設置旋轉方向、旋轉速度、旋轉角度、步進角度等參數，控制轉臺（低散射金屬支架轉頂）按照測試需求進行配合運動。
其他設備	射頻儀器、控制儀器等一切需要遠程控制的設備。

數據采集及自動化測試

數據處理

目標散射特性數據處理	RCS處理、一維成像、二維成像、材料反射率測試處理。
數據展示及輸出	繪制一維（采樣曲線、時域一維像）、二維像，并支持打印輸出。
其他數據處理功能	對數據（曲線）進行平滑、截取、平移、求平均值、對消、拼接合成、概率統計分析等處理功能；具備二維像摳像、取像及反演，二維像疊像、替換及反演功能；支持批量平均、定標體RCS計算、word報告生成等。

其他

擴展功能接口

提供標準數據接口，更多的測試、數據處理、分析功能可以通過動態鏈接庫的方式，作為功能插件嵌入到軟件平臺中。按照軟件給出的標準數據接口，使用者可以根據自己的需求編寫各種新的處理腳本并嵌入原軟件平臺。